一種可以同時(shí)測(cè)量反射率、透射率的光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 產(chǎn)品特征 · 易于安裝· 基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件，很容易操作· 先進(jìn)的光學(xué)設(shè)計(jì)，以確保能發(fā)揮出較佳的系統(tǒng)性能· 基于陣列設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng)，以確?？焖贉y(cè)量· 獨(dú)特的光源設(shè)計(jì)，有著較好的光源強(qiáng)度穩(wěn)定性· 較多可測(cè)量5層的薄膜厚度和折射率· 在毫秒的時(shí)間內(nèi)，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù) · 能夠用于實(shí)時(shí)或在線的厚度、折射率測(cè)量· 系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫(kù)· 對(duì)于每個(gè)被測(cè)薄膜樣品，用戶可以利用先進(jìn)的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫(kù)、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型（EMA）測(cè)量分析； · 可升級(jí)至MSP（顯微分光光度計(jì)）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點(diǎn)測(cè)量。· 通過(guò)模式和特性結(jié)構(gòu)直接測(cè)量。· 提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測(cè)量，例如通過(guò)曲線表面進(jìn)行縱長(zhǎng)測(cè)量。· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。 系統(tǒng)配置 型號(hào)：SRT100檢測(cè)器：雙通道CCD陣列的每個(gè)像素2048光源：氘燈和高功率鹵素?zé)艄鈧鬏敚汗饫w載物臺(tái)：黑色鋁合金樣品測(cè)量平臺(tái)輕松調(diào)整高度，100mmx100mm尺寸通訊：USB測(cè)量類型：薄膜厚度，反射光譜，透射光譜，折射率軟件：TFProbe 2.3電腦需要：常規(guī)配置電源：110 - 240伏交流電/ 50 - 60Hz的，1.5A保修：1年 規(guī)格波長(zhǎng)范圍：250nm到1100 nm光斑尺寸：500μm至5mm樣品尺寸：100mmx100mm基板尺寸：較多可至50毫米厚測(cè)量厚度范圍*：5nm-50μm測(cè)量時(shí)間：較快2毫秒 準(zhǔn)確度：優(yōu)于0.5％（通過(guò)使用相同的光學(xué)常數(shù)，讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較）重復(fù)性誤差*：小于1A     應(yīng)用: 半導(dǎo)體制造（PR，Oxide, Nitride..) 液晶顯示（ITO，PR，Cell gap... ..） 醫(yī)學(xué)，生物薄膜及材料領(lǐng)域等油墨，礦物學(xué)，顏料，調(diào)色劑等醫(yī)藥，中間設(shè)備光學(xué)涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. 半導(dǎo)體化合物在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜非晶體，納米材料和結(jié)晶硅