（1）步驟同上述3·1。

（2）把試樣放入視場(chǎng)中，使試樣的軸線與偏振平面成45o，這時(shí)側(cè)壁上出現(xiàn)亮暗不同的區(qū)域。

（3）旋轉(zhuǎn)檢偏鏡直至側(cè)壁上暗區(qū)聚會(huì)，剛好完全取代亮區(qū)為止。

（4）繞軸線旋轉(zhuǎn)供試品，借以確定zui大應(yīng)力區(qū)。

（5）記錄測(cè)得zui大應(yīng)力區(qū)的檢偏鏡放置角度，并用CHY-G 電子壁厚底厚測(cè)試儀分別測(cè)量?jī)蓚?cè)壁原的厚度(記錄兩側(cè)壁壁厚之和)。

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